薄膜测量平台的原理 x光测厚仪

网上有很多关于薄膜测量平台的原理的问题，也有很多人解答有关x光测厚仪的知识，今天每日小编为大家整理了关于这方面的知识，让我们一起来看下吧!

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一、薄膜测量平台的原理

一、薄膜测量平台的原理

在线膜厚仪的测量原理有四种：X射线技术、X射线技术、近红外技术和光学透射技术。

2.1射线技术

x射线技术最早应用于在线测厚技术，并在20世纪60年代广泛应用于超薄膜的在线测厚。它对被测对象没有要求，但传感器对温度和大气压的变化、薄膜的起伏敏感。设备对辐射防护装置要求高，信号源更换费用昂贵。Pm147源可以用5-6年，Kr85源可以用10年，更换费用6000美元左右。

2.2 x射线技术

这项技术在塑料薄膜生产线上很少使用。X射线管寿命短，更换费用高。一般可以用2-3年，更换费用在5000美元左右。而且不适合测量各种元素组成的聚合物，信号源具有很强的放射性。x射线技术通常用于测量钢板等单一元素。

2.3近红外技术

近红外技术在在线测厚领域的应用曾经受到条纹干涉的影响，但现在已经突破了条纹干涉对于超薄薄膜测厚的限制，可以完全测量多层薄膜的总厚度，而且由于红外技术本身的特点，在测量复合膜总厚度的同时还可以给出各层材料的厚度。近红外技术可用于双轴拉伸膜、流延膜、多层共挤膜，信号源无放射性，设备维护相对困难。

2.4光学镀膜技术

对于透光材料，在一定条件下，透过率与被测厚度存在一一对应关系，因此通过测量光透过率(光密度)来测量材料厚度是一种非常成熟的方案。在卷绕镀膜行业，如镀铝和各种包装膜，通过监测膜的透过率来在线监测生产质量已经是非常成熟的方案。如深圳尚林科技的LS152真空镀膜在线测厚仪，利用光学透射原理实现非接触在线测厚。仪器支持RS485通信接口和MODBUS通信协议，可与涂布机上的PLC通信，实现闭环控制。

以上就是关于薄膜测量平台的原理的知识，后面我们会继续为大家整理关于x光测厚仪的知识，希望能够帮助到大家！